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晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品時間:2024-07-11
  • 簡要描述:晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案,基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術(shù),聯(lián)合白光干涉等其它 3D 測量技術(shù),定制化的半導(dǎo)體參數(shù)測試解決方案。獲得從粗糙度、圖形尺寸和膜厚等幾何參數(shù),到位錯、層錯等缺陷,再到發(fā)光波長、壽命、載流子濃度、組分和應(yīng)力等物理參數(shù)的綜合測試系統(tǒng)。
  • 產(chǎn)品介紹

全晶圓半導(dǎo)體參數(shù)非接觸測試解決方案

Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters

基于我公司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光光譜和共焦拉曼光譜等核心測試技術(shù)和模組,聯(lián)合白光干涉等其它 3D 測量技術(shù),根據(jù)客戶的需求靈活組合相應(yīng)的技術(shù)搭配,為客戶開發(fā)定制化的半導(dǎo)體參數(shù)測試解決方案,獲得從粗糙度、圖形尺寸和膜厚等幾何參數(shù),到位錯、層錯等缺陷,再到發(fā)光波長、壽命、載流子濃度、組分和應(yīng)力等物理參數(shù)的綜合測量,實現(xiàn)無需任何前處理的全晶圓無損自動化檢測。

晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案



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